Толщиномер Константа К5
Контактный профилометр Surftest SJ-210 (Mitutoyo)
Предназначен для измерения шероховатости поверхности в контактном режиме.
Микротвердомер ПМТ-3
Предназначен для измерения микротвердости материалов, сплавов, стекла, керамики и минералов методом вдавливания в испытуемый материал алмазного наконечника Виккерса с квадратным основанием четырехгранной пирамиды, обеспечивающей геометрическое и механическое подобие отпечатков по мере углубления индентора под действием нагрузки.
Оптический микроскоп МИКРО-200
Предназначен для визуального контроля поверхности исследуемых образцов. Объективы (планапохроматы) 5x, 10x, 20x.
Установка для распылительной сушки LU-222 Advanced (Labultima)
Предназначена для получения микрочастиц из растворов и суспензий.
Установка работает в режиме конвективного теплопереноса. Принцип работы – удаление влаги путем передачи тепла на распыляемое вещество.
Прибор для измерения краевого угла смачивания DSA 100E (KRUSS)
Предназначен для определения краевого угла смачивания методом лежащей и висящей капли, определения и расчёта значения свободной энергии пористых материалов, планарных поверхностей различной шероховатости, а также измерения натекающего и оттекающего краевого угла на наклонной поверхности.
Ванна Ленгмюра-Блоджетт
Предназначена для формирования мономолекулярных покрытий и модификации поверхности материалов методом Ленгмюра-Блоджетт.
Наноиндентор Hysitron 750 Ubi
Предназначен для проведения испытаний по измерению микротвердости, модуля упругости образцов материалов при внедрении алмазного наконечника в поверхность при различных нагрузках с измерением параметров отпечатка в сканирующем режиме, в том числе в диапазонах микро- и нанонагрузок.
Атомно-силовой микроскоп НТ-206
Атомно-силовой микроскоп НТ-206 предназначен для измерения и анализа микро- и нанорельефа поверхностей, объектов микро- и нанометрового размерного диапазона, микромеханических и других свойств с высоким разрешением.
Многофункциональный атомно-силовой микроскоп Dimention FastScan (Bruker)
Предназначен для комплексной характеризации структурно-морфологических, механических, электрических и магнитных свойств поверхности исследуемых образцов (наноструктурированные материалы, тонкие пленки, квазиодномерные объекты, квантовые точки, биологические клетки) с высоким пространственным разрешением (вплоть до атомарного уровня).
Пирометр инфракрасный Нимбус – 760
ИК-Фурье спектрометр Nicolet 670 FT-IR с приставкой для регистрации спектров комбинационного рассеяния
Используется для получения инфракрасных спектров пропускания, диффузного отражения и нарушенного полного внутреннего отражения, а также спектров комбинационного рассеяния света.
Микроскопы оптические Celestron
Потенциостат IPC-Compact
Установка магнетронного напыления Polaron SC7620
Предназначена для магнетронного напыления проводящих покрытий на непроводящие образцы для исследования на сканирующем электронном микроскопе.
Спектрометр оптоволоконный AvaSpec-2048
Установка вакуумного напыления
Экспериментальная установка “Газовая кювета”
Предназначена для измерения ИК-спектров пропускания газов.
Дифференциальный сканирующий калориметр DSC-2
Оптический микроскоп Olympus BX51M