ТОМ 82,   №1

РАСЧЕТ ПОЛЕЙ НАПРЯЖЕНИЙ У ПОЛИСИНТЕТИЧЕСКОГО ДВОЙНИКА, НАХОДЯЩЕГОСЯ У ПОВЕРХНОСТИ КРИСТАЛЛА


Без использования приближения тонкого двойника, при допущении непрерывного распределения дислокаций на границах разработана методика расчета полей напряжений у полисинтетического двойника, находящегося у поверхности кристалла. Показано, что напряжения у полисинтетического двойника локализованы на границах и у вершин входящих в его состав двойников. Приведены примеры расчетов скалывающих напряжений у полисинтетического двойника с прямолинейными и криволинейными границами, при равномерном и неравномерном распределении дислокаций на границах.

Автор:  О. М. Остриков
Стр:  184

О. М. Остриков.  РАСЧЕТ ПОЛЕЙ НАПРЯЖЕНИЙ У ПОЛИСИНТЕТИЧЕСКОГО ДВОЙНИКА, НАХОДЯЩЕГОСЯ У ПОВЕРХНОСТИ КРИСТАЛЛА // Инженерно-физический журнал. . ТОМ 82, №1. С. 184.


Возврат к списку