Описание
Сканирующий ближнепольный оптический микроскоп (далее СБОМ), предназначен для исследований структуры и состава поверхностей оптически непрозрачных объектов. СБОМ обеспечивает исследование поверхности объектов методами оптической микроскопии с разрешением ниже дифракционного предела за счет детектирования излучения, рассеянного изучаемым объектом на расстояниях меньших, чем длина волны света.ОПИСАНИЕ ПРЕДЛОЖЕНИЯ
Для создания локальной пространственной неоднородности оптического излучения с характерным размером 5 – 20 нм используется прохождение излучения через апертуру с размерами много меньше длины волны (т.н. апертурный метод), либо использование реального наноразмерного электрического диполя – квантовой точки, либо металлической наночастицы, как правило, с эффектом гигантского комбинационного рассеяния (т.н. безапертурный метод). На больших расстояниях наблюдаются только излучательные моды, причем для излучения с длиной волны 650 нм и диафрагмы с отверстием до 5 нм мощность излучения в дальней зоне составляет 10-10 от мощности падающего излучения. При взаимодействии эванесцентного излучения с наноразмерным исследуемым объектом в ближней зоне часть энергии электромагнитного поля преобразуется в излучательные моды, которые регистрируются оптическим фотоприемником в виде распределения интенсивности оптического излучения в зависимости от локальных оптических свойств наноразмерного образца (локальных значений отражения, преломления, поглощения и рассеяния света).
СОСТАВ СБОМ:
- Сканирующая платформа для наноперемещений
- Микропроцессорный блок управления сканирующей платформой
- Оптоволоконная система
- Система регистрации и восстановления изображений
ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ МИКРОСКОПА
Объектив микроскопа собирает отраженное (рассеянное образцом) излучение.
- Поле сканирования в плоскости XY 100х100 мкм
- Диапазон измерений линейных размеров по оси Z 50-100 нм
- Спектральный диапазон регистрируемого излучения 480-680 нм
- Оптическое увеличение 60 крат
Оптическое увеличение определяется типом и комплектацией применяемого флуоресцентного микроскопа. Тип, марка и комплектация флуоресцентного микроскопа могут быть изменены по требованию заказчика.
В конструкции СБОМ использована схема исследования непрозрачных образцов на отражение, в которой зонд подводится к образцу сверху, и которое затем регистрируется фотоприемником, что позволяет реализовать также люминесцентный режим работы с детектированием люминесцентного излучения объекта.
Сканирующая система ближнепольного оптического микроскопа ССБОМ-01 обеспечивает взаимное перемещение зонда и образца в трех измерениях X, Y, Z с помощью специального позиционера с пьезоприводами, управление которыми осуществляется специализированным компьютером.
Допускается использование для управления приводами персонального компьютера с использованием интерфейса USB 2.0 или USB 3.0.
ПРЕДЛОЖЕНИЯ О СОТРУДНИЧЕСТВЕ
Поставка оборудования, разработка технических средств и методик исследования образцов по требованию заказчика, проведение исследований на договорной основе. Обучение студентов.