УДК 537.29:531.21.224.4

И. Н. Алиев, И. А. Наумов

ЭЙЛЕРОВА НЕУСТОЙЧИВОСТЬ ЗАРЯЖЕННЫХ ЗАКРЕПЛЕННЫХ ПЛАСТИНОК

Рассмотрена неустойчивость упругой тонкой заряженной закрепленной 
пластины. Доказано, что пороговое значение квадрата напряженности 
электрического поля растет линейно с увеличением натяжения пластины 
и ее жесткости.

Московский государственный технический университет им. 
Н. Э. Баумана. Россия, 105005, г. Москва, ул. 2-я Бауманская, 5; э-почта: 
alievprof@mtu-net.ru. Поступила 23.06.2003.