УДК 534.2

С. М. Ушеренко1), Г. С. Романов2), 
О. А. Дыбов1), А. И. Белоус3), С. В. Шведов3)

ЭФФЕКТ СВЕРХГЛУБОКОГО ПРОНИКАНИЯ, ПРОБИВАНИЯ ПРЕГРАД
И ЕГО ВЛИЯНИЕ НА РАБОТУ ЭЛЕКТРОННЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

Впервые сообщается о регистрации влияния на рабочие параметры 
микросхем, размещенных за толсто-стенной преградой, воздействия потока 
высокоскоростных частиц в режиме сверхглубокого проникания. Выдвигается 
предположение о том, что данный эффект возможен при соударении потока 
микрометеоритов с космическими аппаратами, что может отражаться на 
работе их компьютерного оборудования. 

1)НИИ импульсных процессов с опытным производством, г. Минск; 
э-почта: impuls@bn.by; 2)Институт тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова 
НАН Беларуси, г. Минск; 3)НПО "Интеграл", г. Минск. 
Поступила 17.06.2002.

IFZH7492020024
IFZH749204